在半導(dǎo)體設(shè)備這一精度決定成敗的戰(zhàn)略性產(chǎn)業(yè),同心度等關(guān)鍵幾何參數(shù)的精準(zhǔn)控制是保障設(shè)備可靠運(yùn)行、提升國(guó)產(chǎn)競(jìng)爭(zhēng)力的核心要素。設(shè)備中的微小瑕疵足以引發(fā)災(zāi)難性后果。以軸套為例,兩側(cè)圓柱用于裝配軸承,如果不同心,會(huì)造成軸在旋轉(zhuǎn)的時(shí)候別著勁,輕則只是噪音...
便攜式粗糙度儀是一種采用接觸式測(cè)量原理的儀器。其主要部件包括掃描頭和主機(jī)。掃描頭通過接觸被測(cè)表面,感知表面的微小起伏,并將測(cè)量結(jié)果傳輸給主機(jī)進(jìn)行處理和顯示。在測(cè)量過程中,掃描頭通過其中的傳感器感知表面的起伏狀態(tài),根據(jù)傳感器與表面之間的力和位...
白光干涉儀作為一種常用的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,在材料科學(xué)領(lǐng)域中具有重要意義。首先,需要了解什么是白光干涉。白光是由各種波長(zhǎng)的光混合而成的,而干涉是波動(dòng)現(xiàn)象中的一種,常見的干涉現(xiàn)象包括光的干涉條紋、薄膜干涉等。白光干涉就是利用白光的干涉現(xiàn)象來分析材料...
激光共聚焦顯微鏡原理是由LED光源發(fā)出的光束經(jīng)過一個(gè)多孔盤和物鏡后,聚焦到樣品表面。之后光束經(jīng)樣品表面反射回測(cè)量系統(tǒng)。再次通過MPD上的針孔時(shí),反射光將只保留聚焦的光點(diǎn)。最后,光束經(jīng)分光片反射后在相機(jī)上成像。為什么激光共聚焦顯微鏡成像質(zhì)量更...
目前BGA封裝技術(shù)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè),相較于傳統(tǒng)的TSOP封裝,具有更小體積、更好的散熱性能和電性能。在BGA封裝的植球工藝階段,需要使用到特殊設(shè)計(jì)的模具,該模具的開窗口是基于所需的實(shí)際焊球大小和電路板焊盤尺寸考慮,模具的開窗口大小直接...
機(jī)床激光干涉儀利用激光干涉原理進(jìn)行測(cè)量。它通過激光束的干涉來確定工件的形狀、尺寸和表面質(zhì)量等參數(shù)。激光束被分成兩束,一束直接照射在被測(cè)工件上,另一束則通過反射鏡后再與被測(cè)工件相交。這兩束激光束在相交的地方產(chǎn)生干涉現(xiàn)象,根據(jù)干涉條紋的變化來獲...
在半導(dǎo)體行業(yè)中,Bump、RDL、TSV、Wafer合稱先進(jìn)封裝的四要素,其中Bump起著界面互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用。Bump是一種金屬凸點(diǎn),從倒裝焊FlipChip出現(xiàn)就開始普遍應(yīng)用,Bump的形狀有多種,最常見的為球狀和柱狀,也有塊狀等其...
歡迎您關(guān)注我們的微信公眾號(hào)了解更多信息
微信掃一掃